Influencia de la resolución espectral en la medición de propiedades estelares

Este trabajo busca determinar la influencia de la resolución espectral en la medición de propiedades estelares. En específico se analizará su influencia en la determinación de la posición, anchura y profundidad de las líneas espectrales, del Line Depth Ratio, la forma de la bisectriz y el nivel de mezcla de líneas espectrales vecinas. En esta presentación de avances se presentará la fundamentación teórica, las líneas de alta resolución generadas y su comportamiento con la reducción de resolución.