Elipsometría Espectroscópica para la caracterización óptica de materiales

La interacción de la luz con la materia depende fuertemente de su estado de polarización. Debido a esto, la luz sufre cambios en su estado de polarización al reflejarse en un material. Un adecuado análisis de estos cambios de polarización, junto con la implementación de modelos simples, permiten medir características ópticas de los materiales tales como sus constantes ópticas (índice de refracción complejo, función dieléctrica, o conductividad) y otras propiedades como el espesor de películas delgadas. Con la ayuda de teorías de medio efectivo es posible, incluso, medir la rugosidad de interfaces, la porosidad y el nivel de dopaje de muestras no homogéneas. La elipsometría espectroscópica es por excelencia la técnica más versátil y precisa existente hoy día para este propósito. Esta técnica es especialmente común en la caracterización óptica de películas delgadas, pudiendo determinar con gran precisión espesores de unos pocos nanómetros hasta varias micras, gracias a que el análisis está basado en mediciones de fase e intensidad relativas en todo el espectro óptico.

En este coloquio se presentarán los fundamentos básicos de esta técnica, así como algunos resultados y perspectivas del trabajo de investigación que adelantamos en el Grupo de Instrumentación Cientifica & Didáctica y el Semillero Grupo de Óptica de Materiales de la Universidad Distrital Francisco José de Caldas.

César A. Herreño Fierro es Licenciado en Física de la Universidad Distrital Francisco José de Caldas (UDFJC), máster y doctor en Ciencias – Física de la Universidad de los Andes, Profesor Asociado de la UDFJC, director del Grupo de Instrumentación Científica & Didáctica, tutor del Semillero Grupo de Óptica de Materiales.